在工業測溫領域，Japan Sensor 的 FLHX 和 TMHX 系列輻射溫度計因其高精度、快速響應和適應惡劣環境的能力而廣受認可。然而，這兩大系列在測溫范圍、響應速度、目標尺寸和環境適應性等方面存在顯著差異。本文將深入對比它們的性能特點，并提供選型建議，幫助用戶根據實際需求選擇最合適的型號。
| 參數 | FLHX 系列 | TMHX 系列 |
|---|---|---|
| 測溫范圍 | 90°C~3200°C（部分型號可擴展） | 0°C~2400°C（不同子系列不同） |
| 響應時間 | 1ms（0.001s） | 0.1ms（TMHX-CUE）~1ms（其他） |
| 最小標靶尺寸 | φ0.15mm | φ0.7mm（TMHX-CSE） |
| 測量距離 | 25~1000mm | 35~500mm（視型號而定） |
| 探測器類型 | InGaAs（短波）、Si（高溫） | InSb（超高速）、熱電堆（部分型號） |
| 防護等級 | IP67（部分型號） | IP67（TMHX-CLE） |
| 典型應用 | 冶金、玻璃熔爐、真空鍍膜 | 半導體、激光加工、精密制造 |
適用于超高溫工業場景，如鋼鐵冶煉、陶瓷燒結、玻璃熔爐。
細分型號：
TNE系列（90~2000°C，InGaAs探測器）
PNE系列（220~2000°C，短波紅外）
ANE系列（500~2000°C，硅探測器）。
適合微小目標測溫，如電子元件、精密焊接點。
可捕捉快速變化的溫度，如連鑄鋼水、高速產線。
鋁制外殼，耐高溫、耐化學腐蝕，部分型號支持真空腔體測溫。
TMHX-CUE 采用 InSb 探測器，實現0.1ms 超高速測溫，適用于激光加工、電池極片軋制。
TMHX-CSE 專為小目標設計，適合半導體晶圓、細線溫度監測。
經濟型選項，適合多點測溫需求，如食品烘干、塑料成型。
TMHX-CLE 采用IP67 防護，適用于化工、涂裝等腐蝕性環境。
>1500°C → FLHX 系列（如 FLHX-ANE0700）
<1000°C → TMHX 系列（如 TMHX-CNE0500）
超高速（0.1ms） → TMHX-CUE（如 TMHX-CUE0500）
常規高速（1ms） → FLHX 或 TMHX-CHE
φ<1mm → FLHX（φ0.15mm）或 TMHX-CSE（φ0.7mm）
φ>1mm → TMHX-CNE 或 FLHX 標準型號
強腐蝕/防塵 → TMHX-CLE（IP67）或 FLHX（鋁制外殼）
真空/強電磁干擾 → FLHX（支持窗口測溫）或光纖型 FTKX1
| 行業 | 推薦型號 | 優勢 |
|---|---|---|
| 鋼鐵連鑄 | FLHX-TNE0220 | 耐高溫（2000°C），1ms響應 |
| 半導體激光 | TMHX-CUE0500 | 0.1ms超高速，InSb探測器 |
| 鋰電池涂布 | LTH1-CNN0400（線性測溫） | 多點同步監測 |
| 化工反應釜 | TMHX-CLE1350 | IP67防護，耐腐蝕 |
FLHX 系列 更適合超高溫、微小目標、長距離測溫，如冶金、玻璃行業。
TMHX 系列 在超高速、低成本、惡劣環境場景表現更優，如半導體、精密制造。
