日本Yamada高強(qiáng)度鹵素?zé)鬥P-150I & YP-250I專業(yè)介紹

1. 產(chǎn)品概述

日本Yamada推出的YP-150I和YP-250I高強(qiáng)度鹵素?zé)簦瑢楦呔缺砻嫒毕輽z測(cè)設(shè)計(jì)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體晶片、液晶基板、光學(xué)玻璃等精密制造領(lǐng)域。兩款產(chǎn)品均采用高亮度鹵素光源，結(jié)合冷鏡技術(shù)，在保證超高照度的同時(shí)大幅降低熱影響，確保檢測(cè)的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。

2. 核心技術(shù)特點(diǎn)

（1）超高亮度照明

• 照度≥400,000Lx，遠(yuǎn)超常規(guī)照明設(shè)備，可清晰識(shí)別僅靠精密儀器才能檢測(cè)的微米級(jí)缺陷（如劃痕、異物、拋光不均等）。

• 色溫達(dá)3400K，光線均勻銳利，減少照明不均導(dǎo)致的誤判。

（2）冷鏡技術(shù)（Cold Mirror Technology）

• 相比傳統(tǒng)鋁鏡，熱影響降低50%~67%，有效防止設(shè)備變形及樣品熱損傷。

• 延長(zhǎng)設(shè)備使用壽命，適用于熱敏感材料（如液晶面板、光學(xué)鍍膜等）。

（3）兩段式光強(qiáng)切換

• 一鍵切換高/低照明模式，適應(yīng)不同檢測(cè)需求（如高對(duì)比度檢測(cè)或長(zhǎng)時(shí)間觀察）。

3. 產(chǎn)品參數(shù)對(duì)比

4. 典型應(yīng)用場(chǎng)景

（1）半導(dǎo)體行業(yè)

• 晶圓缺陷檢測(cè)：硅片、砷化鎵、碳化硅等材料的劃痕、霧狀污染、拋光不均等。

• 封裝工藝檢查：芯片表面異物、微裂紋等。

（2）液晶顯示行業(yè)

• 液晶基板檢測(cè)：發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程中的顆粒污染、劃傷、鍍膜缺陷等。

• OLED面板質(zhì)檢：高亮度照射下識(shí)別像素異常、Mura缺陷。

（3）光學(xué)玻璃行業(yè)

• 鏡片/透鏡檢測(cè)：檢測(cè)氣泡、雜質(zhì)、微小劃痕，確保光學(xué)性能。

• 鍍膜質(zhì)量分析：觀察膜層均勻性及附著缺陷。

5. 選型指南

6. 結(jié)論

Yamada YP-150I和YP-250I高強(qiáng)度鹵素?zé)魬{借超高亮度、冷鏡降溫、靈活光強(qiáng)調(diào)節(jié)等優(yōu)勢(shì)，成為精密制造業(yè)表面檢測(cè)的理想選擇。

• YP-150I：適用于小尺寸、高精度、低熱影響場(chǎng)景，經(jīng)濟(jì)性更佳。

• YP-250I：適合大范圍、遠(yuǎn)距離、高亮度需求，兼顧效率與性能。

用戶可根據(jù)檢測(cè)對(duì)象尺寸、環(huán)境條件及預(yù)算選擇最適配型號(hào)，以優(yōu)化質(zhì)檢流程并提升良品率。