SNK表面附著異物可視化技術分析
顆粒可視化技術可用于高靈敏度地檢測光滑表面上的顆粒。此外，通過可視化顆粒成分產生的熒光，可以日常管理表面異物和污垢。
高靈敏度粒子可視化技術捕獲移動粒子的散射光。同樣的原理可用于高靈敏度地檢測表面異物或移動產品的微弱散射光。使用激光只能應用于光滑的產品，但可以通過可視化進行檢測，例如，即使在施加張力的薄膜中也是如此。
使用散射光感測表面異物
附著在表面的異物或污垢可能會因其成分而反射熒光。為了使熒光顏色變得清晰，需要想辦法照射光線，但如果使用特殊的濾光片來濾除散射光，表面的異物就會變得非常豐富多彩，并且很容易看到。通過這種方法，無論表面的光滑程度如何，只要有光到達，就可以進行可視化。“D Light"可免費借用（約2天）。請借此機會嘗試一下。
利用熒光識別異物和污垢
“D Light"是一種可以更輕松地從視覺上看到異物和表面污垢的熒光顏色的工具。
“D Scope"是一種可以捕獲最微弱熒光的工具，可以分析細小顆粒的各種信息并將其轉換為數據。
平行眼 F是一種相對容易設置在您想要可視化的表面上的光源。
Parallel Eye H是可視化寬闊、光滑的產品表面的最佳光源。
Parallel Eye D是可視化不平坦表面或使熒光更加突出的最佳光源。
具有粒子檢測專用的靈敏度和功能的超高靈敏度相機就是專用超高靈敏度相機“粒子眼"。
要在 PC 上實時處理和記錄圖像，請使用圖像處理包“ParticleEye"
