光譜干涉儀技術在薄膜測厚儀上的運用
| 模型 | FOS |
|---|---|
| 測量方法 | 非接觸式/光譜干涉儀 |
| 測量對象 | 電子、光學用透明平滑膜、多層膜 |
| 測量原理 | 光譜干涉儀 |
實現高測量重復性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）
不易受溫度變化的影響
可以制造用于研究和檢查的離線型和制造過程中使用的在線型。
反射型允許從薄膜的一側測量
只能測量透明涂膜層（取決于測量條件）
| 測量厚度 | 1 至 50 μm（用于薄材料）、10 至 150 μm（用于厚材料） |
|---|---|
| 測量長度 | 50-5000 毫米 |
| 測量間距 | 1 毫米 ~ |
| 最小顯示值 | 0.001 微米 |
| 電源電壓 | AC100 伏 50/60 赫茲 |
| 工作溫度限制 | 5～45℃（測量時溫度變化在1℃以內） |
| 濕度 | 35-80%（無冷凝） |
| 測量區域 | φ0.6毫米 |
| 測量間隙 | 約 30 毫米 |
下一篇：適用于軟薄膜的測厚儀介紹
